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Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction (200 mm Wafer) 校准标准高分...

更新时间:2025-09-25

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厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction (200 mm Wafer)
校准标准高分辨率x射线衍射(200 mm晶圆)
(信息以英文名称为准)
目录号:NIST-SRM2012 CAS: 
分子式: 分子量: 
品牌: 纯度: 
规格 市场价(RMB) 优惠价(RMB) 货期 备注
wafer 171376 请询价 3-4周 In-Stock

备注:
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